元器件參數(shù)測(cè)試 > LCR測(cè)試儀 產(chǎn)品屬性：主機(jī) 產(chǎn)品狀態(tài)：停產(chǎn) 簡(jiǎn)　　述： 精密LC">

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KEYSIGHT 4285A 精密LCR測(cè)試儀

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型　　號(hào)：4285A
名　　稱：精密LCR測(cè)試儀
品　　牌：是徳(KEYSIGHT)
分　　類：通用電子測(cè)試 > 元器件參數(shù)測(cè)試 > LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品屬性：主機(jī)
產(chǎn)品狀態(tài)：停產(chǎn)
簡(jiǎn)　　述：
精密LCR表，75 kHz至30 MHz
產(chǎn)品詳情

  • 75kHz-30MHz以100Hz步進(jìn)


  • ?0.1%的基本精度


  • ?高速測(cè)量：30ms/一次測(cè)量


  • ?恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平


  • ?用Keysight(原Agilent)42841A時(shí)給出10Adc


  • ?能用Keysight(原Agilent)42851A進(jìn)行精確的Q測(cè)量


  • ?具有列表掃描測(cè)量功能

技術(shù)指標(biāo)：

被測(cè)參數(shù)|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā)內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度0、1和2
積分時(shí)間：短、中等和長(zhǎng)
取平均：1-256可程控
測(cè)試信號(hào)：75kHz-30MHz±0.01%8610以100Hz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn)：分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定：維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)
測(cè)試信號(hào)：
電平標(biāo)準(zhǔn)恒定
4285A5mV~2V,200μA-20mA10mV-1V,100μA-20mA
直流偏置：
選件：0V-±40V
測(cè)量顯示范圍
參數(shù)范圍
|Z|,R,X0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B0.01nS-99.9999S
CHP
4284A:0.01fF-9.9999F
LHP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D0.000001-9.99999
Q0.01-99999.9
θ-180.000°~180.000°
Δ%-999.999%~999.999%
基本測(cè)量精度
|Z|,C,LD
0.1%0.001
補(bǔ)充特性：
測(cè)量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短30ms
中等65ms
長(zhǎng)200ms
選件001直流偏流輸出100mA
max
顯示器：
LCD點(diǎn)陣顯示：顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示
修正功能開路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
接負(fù)載：利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度
列表掃描功能*多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程。可進(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試
比較器
10倉(cāng)室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù)
倉(cāng)室計(jì)數(shù)：0-999999
列表掃描比較器：高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)
其它功能：
存儲(chǔ)/加載：
10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載
HP-IB所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果
存儲(chǔ)器：存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)*多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式

一般技術(shù)指標(biāo)：

電源要求100/120/220V±10%,240V
5%/-10%,47-66Hz
功耗200VA max
工作溫度和濕度0°~55℃,在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95%
尺寸42mm(寬）*177(高）mm*498mm(長(zhǎng)）（16.77英寸）*（6.97英寸）*（19.61英寸）
重量：
約16kg (35.2磅）

附件：

  • ?Keysight(原Agilent) 42851A精密Q適配器：與4285A一起用于諧振Q測(cè)量


  • 　被測(cè)參數(shù)：Q-L，Q-C


  • 　Q的測(cè)量范圍：5.00-999.99


  • 　Q的基本精度：5%


  • 　測(cè)量時(shí)間：75ms-1.5s


  • 　接口：常規(guī)，可直接由帶選件002的HP4285A控制


  • 　　　選件001：SMD測(cè)試夾具

主要技術(shù)資料：

  • ?4284A/4285A/4286A精密LCR測(cè)試儀系列技術(shù)資料，p/n 5963-5391E


  • ?4285A技術(shù)數(shù)據(jù)，p/n 5963-5395E


  • ?LCR測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購(gòu)指南，p/n 5950-1430E

訂貨信息：

  • 4285A 精密LCR測(cè)試儀


  •   Opt 001功率放大器/直流偏置


  •   Opt 002附件控制接器


  •   Opt 004存儲(chǔ)卡


  •   Opt 109除GPIB接口（用于兩種測(cè)試儀）


  •   Opt 201一般用途處理器接口（用于兩種測(cè)試儀）


  •   Opt 202處理器接口（用于兩種測(cè)試儀）


  •   Opt 301掃描器接口（用于兩種測(cè)試儀）


  • 42851A 精密Q適配器


  •   Opt 001 SMD測(cè)試夾具


KEYSIGHT 4285A 精密LCR測(cè)試儀
KEYSIGHT 4285A 精密LCR測(cè)試儀

KEYSIGHT 4285A 精密LCR測(cè)試儀

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型　　號(hào)：4285A
名　　稱：精密LCR測(cè)試儀
品　　牌：是徳(KEYSIGHT)
分　　類：通用電子測(cè)試 > 元器件參數(shù)測(cè)試 > LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品屬性：主機(jī)
產(chǎn)品狀態(tài)：停產(chǎn)
簡(jiǎn)　　述：
精密LCR表，75 kHz至30 MHz
13580800393
產(chǎn)品詳情

  • 75kHz-30MHz以100Hz步進(jìn)


  • ?0.1%的基本精度


  • ?高速測(cè)量：30ms/一次測(cè)量


  • ?恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平


  • ?用Keysight(原Agilent)42841A時(shí)給出10Adc


  • ?能用Keysight(原Agilent)42851A進(jìn)行精確的Q測(cè)量


  • ?具有列表掃描測(cè)量功能

技術(shù)指標(biāo)：

被測(cè)參數(shù)|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā)內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度0、1和2
積分時(shí)間：短、中等和長(zhǎng)
取平均：1-256可程控
測(cè)試信號(hào)：75kHz-30MHz±0.01%8610以100Hz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn)：分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定：維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)
測(cè)試信號(hào)：
電平標(biāo)準(zhǔn)恒定
4285A5mV~2V,200μA-20mA10mV-1V,100μA-20mA
直流偏置：
選件：0V-±40V
測(cè)量顯示范圍
參數(shù)范圍
|Z|,R,X0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B0.01nS-99.9999S
CHP
4284A:0.01fF-9.9999F
LHP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D0.000001-9.99999
Q0.01-99999.9
θ-180.000°~180.000°
Δ%-999.999%~999.999%
基本測(cè)量精度
|Z|,C,LD
0.1%0.001
補(bǔ)充特性：
測(cè)量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短30ms
中等65ms
長(zhǎng)200ms
選件001直流偏流輸出100mA
max
顯示器：
LCD點(diǎn)陣顯示：顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示
修正功能開路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
接負(fù)載：利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度
列表掃描功能*多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程。可進(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試
比較器
10倉(cāng)室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù)
倉(cāng)室計(jì)數(shù)：0-999999
列表掃描比較器：高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)
其它功能：
存儲(chǔ)/加載：
10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載
HP-IB所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果
存儲(chǔ)器：存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)*多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式

一般技術(shù)指標(biāo)：

電源要求100/120/220V±10%,240V
5%/-10%,47-66Hz
功耗200VA max
工作溫度和濕度0°~55℃,在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95%
尺寸42mm(寬）*177(高）mm*498mm(長(zhǎng)）（16.77英寸）*（6.97英寸）*（19.61英寸）
重量：
約16kg (35.2磅）

附件：

  • ?Keysight(原Agilent) 42851A精密Q適配器：與4285A一起用于諧振Q測(cè)量


  • 　被測(cè)參數(shù)：Q-L，Q-C


  • 　Q的測(cè)量范圍：5.00-999.99


  • 　Q的基本精度：5%


  • 　測(cè)量時(shí)間：75ms-1.5s


  • 　接口：常規(guī)，可直接由帶選件002的HP4285A控制


  • 　　　選件001：SMD測(cè)試夾具

主要技術(shù)資料：

  • ?4284A/4285A/4286A精密LCR測(cè)試儀系列技術(shù)資料，p/n 5963-5391E


  • ?4285A技術(shù)數(shù)據(jù)，p/n 5963-5395E


  • ?LCR測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購(gòu)指南，p/n 5950-1430E

訂貨信息：

  • 4285A 精密LCR測(cè)試儀


  •   Opt 001功率放大器/直流偏置


  •   Opt 002附件控制接器


  •   Opt 004存儲(chǔ)卡


  •   Opt 109除GPIB接口（用于兩種測(cè)試儀）


  •   Opt 201一般用途處理器接口（用于兩種測(cè)試儀）


  •   Opt 202處理器接口（用于兩種測(cè)試儀）


  •   Opt 301掃描器接口（用于兩種測(cè)試儀）


  • 42851A 精密Q適配器


  •   Opt 001 SMD測(cè)試夾具


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