我們的頻譜關(guān)聯(lián)技術(shù)能夠利用網(wǎng)絡(luò)分析儀在頻域中直接分析調(diào)制的輸入和輸出信號(hào)。 當(dāng)前市場上的解決方案需要網(wǎng)絡(luò)和頻譜分析儀來**表征元器件。 而使用新型 ENA-X，您可以在 DUT 平面上實(shí)施全矢量校正，而且只需設(shè)置一次，便可執(zhí)行多項(xiàng)測量，確保實(shí)現(xiàn)出色的測試準(zhǔn)確度和可重復(fù)性。 利用 ENA-X 網(wǎng)絡(luò)分析儀，您不必手動(dòng)重新配置設(shè)置或自動(dòng)運(yùn)行基于交換機(jī)的復(fù)雜系統(tǒng)，因此可以更快驗(yàn)證器件性能，同時(shí)盡可能避免潛在錯(cuò)誤。

• 利用綜合的調(diào)制失真軟件，可以實(shí)現(xiàn)**的剩余 EVM。

• 寬廣的動(dòng)態(tài)范圍可確保測試準(zhǔn)確度，并改善噪聲系數(shù)測量。

• 通過接收機(jī)直接訪問集成的升壓放大器、衰減器或定向耦合器，執(zhí)行靈活的大功率測試。

• 在 DUT 平面上執(zhí)行矢量校正校準(zhǔn)，解決輸入端口不匹配、通道功率和信號(hào)源誤差等問題。

• *需一臺(tái)儀器，便能執(zhí)行調(diào)制的失真和頻譜分析、噪聲系數(shù)、矢量混頻器等測量，從而更快完成測試。